Techviewは、特殊アルゴリズムと当社独自の光学系を採用した、今までにない高精度なムラ検出装置です。

美術品、絵図、巻物などの文化財を撮るためのスキャナー。撮像サイズは無限大です。

機械特性検査、光学特性検査、再生特性検査を最新ダブルレイヤーまで含め複合的に実施できる検査装置です。

浜松メトリックスでは、精密検査装置のOEM向け研究開発から設計、製造、据え付けまでを一貫してお引き受けしております。